電子元器件通常都有一定的溫度系數，其輸出信號會隨溫度變化而漂移，稱為“溫漂”，為了減小溫漂，采用一些補償措施在一定程度上抵消或減小其輸出的溫漂，這就是溫度補償。針對光譜儀的溫漂情況提出以下方法，并通過實驗測試方法的可行性。

一、模型描述

選擇具有多個特征譜線的汞氬燈光源，能夠覆蓋波長范圍［λL，λH］。然后將光譜儀放置在可設置溫度的高低溫環境箱內，溫度調節范圍為［TL，TH］，變化量為 ΔT=（TH-TL）/（M-1），其中Ｍ為光源特征峰標準點的個數，ΔＴ越小，精度越高，溫度適應性也就越強。

根據不同溫度下已知特征譜線標準波長與CCD上響應對應像元的位置，建立基于溫度補償的多項式關系：

式中，c₀～c₉為多項式系數。根據不同溫度下的多組波長與對應像元數據，求解式中的c₀～c₉，確定像元位置、波長、溫度的三者關系。

二、具體定標流程

（1）定標開始時，將光譜儀置于溫度箱中，設置溫度。每個溫度點定標結束以后，溫度依次增加ΔT。

（2）進行波長定標時，接入標準光源，然后選擇對應的溫度定標點Ｔ，并記錄溫度Ｔ下的特征譜線峰值波長所對應的像元位置。

（3）判斷所有溫度點是否都已測試過，如是，則結束溫度定標的循環，進入曲面擬合過程；如否，則增加溫度ΔT，繼續進行。

（4）進行三次多項式的曲面擬合，擬合出波長定標曲線λ（x，T），得到多項式系數c₀～c₉，從而完成了基于溫度補償的波長定標。

三、實驗操作過程

1.鑒知技術SR75C光纖光譜儀波長范圍為180～340nm，線陣CCD探測器的像元總數為2048個。波長定標時，均勻選取汞氬燈的特征譜線，依據模型描述選定2-4個汞氬燈的特征波長峰值。選取溫度范圍為0℃～40℃。根據測試結果，記錄不同溫度下標準波長所對應的探測器像元位置。

2.采用三次多項式擬合方法求解多項式系數c₀～c₉，擬合后查看均方根RMSE的大小，判定擬合曲線于真實曲線之間的誤差。

3.對波長定標完成后的光譜儀進行測試。分別在低溫0 ℃和高溫40℃下測量了定標后光譜儀的測試峰值波長，并將其與標準波長進行差值計算分析，此方法可以提高波長定標精度。